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MiniTest2500
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MiniTest4500
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可存儲的讀數總數
*大批組數量
具有獨立校準值的應用程序存儲數量
具有相同校準值的批組每個應用程序存儲的批組數量
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2000000
1
-
-
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2000000
超過9500
99
99
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統(tǒng)計功能(每批組)
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kvar, n, max.,
min.
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kvar, n, max.,
min., CP, CPK
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校準
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-
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如果無基材使用，則通過涂層進行校準(CTC)
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補償功能
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-
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用于從讀數中加/減一個恒定值
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極限設置(用戶自定義)
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-
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超出限制時的光信號和聲音信號報警
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測量單位
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μm, mm, cm,
mils, inch
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接口
可升級接口
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USB
-
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USB和藍牙 4.0
報警輸出，腳踏開關觸發(fā)，RS 232接口
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電源/每次更換電池的工作時間
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3 x AA (LR06) 電池和USB/大約為150小時(不使用背光)
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規(guī)范和標準
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DIN EN ISO1461,
2064, 2178, 2360, 2808, 3882；ISO 19840；
ASTM B244,B499, D7091, E376
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顯示
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53
x 46 mm，帶背光
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操作溫度/存儲溫度
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10
~60°C / –20 ~ 70°C
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尺寸/重量
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53mm x 89mm x
36mm/ 320g(儀器包括電池)，橡膠保護套90g
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防護等級
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IP 65
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可選探頭
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所有探頭都可配合任一主機使用。在選擇*適用的探頭時需要考慮覆層厚度，基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
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探頭
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量程
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低端
分辨率
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誤差
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*小曲率
半徑(凸/凹)
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*小測量
區(qū)域直徑
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*小基
體厚度
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F05
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0-500μm
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0.1μm
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±(1%+0.7μm)
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0.75/5mm
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3mm
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0.1mm
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F3
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0-3000μm
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0.2μm
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±(1%+1μm)
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1.5/10mm
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5mm
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0.5mm
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F10
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0-10mm
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5μm
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±(1%+10μm)
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5/16mm
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20mm
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1mm
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F20
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0-20mm
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10μm
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±(1%+20μm)
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10/30mm
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40mm
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2mm
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F50
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0-50mm
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10μm
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±(3%+50μm)
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50/200mm
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300mm
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2mm
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N02
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0-200μm
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0.1μm
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±(1%+0.5μm)
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1/5mm
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2mm
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50μm
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N.08Cr
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0-80μm
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0.1μm
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±(1%+1μm)
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2.5mm
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2mm
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100μm
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N10
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0-10mm
|
10μm
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±(1%+25μm)
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25/100mm
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50mm
|
50μm
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N20
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0-20mm
|
10μm
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±(1%+50μm)
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25/100mm
|
70mm
|
50μm
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N100
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0-100mm
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100μm
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±(1%+0.3mm)
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100mm/平面
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200mm
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50μm
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FN1.6
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0-1600μm
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0.1μm
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±(1%+1μm)
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1.5/10mm
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5mm
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F：0.5mm/N：50μm
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FN1.6/90
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0-1600μm
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0.1μm
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±(1%+1μm)
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平面/6mm
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5mm
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F：0.5mm/N：50μm
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F2HT
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0-2000μm
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0.2μm
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±(1%+1μm)
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1.5/10mm
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5mm
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0.5mm
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注：
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F型探頭：測量鋼鐵基體上的非磁性覆層
N型探頭：測量有色金屬基體上的絕緣覆層
FN兩用探頭：同時具備F型和N性探頭的功能
FN1.6/90為直角探頭，用于管內測量
N.08Cr用于測量銅上鍍鉻。
F2HT為高溫探頭，有兩款，允許在高達250°C或350° C表面溫度的熱表面上進行涂層厚度測量
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